X射線熒光光譜鍍層厚度測試儀,1.鍍層檢測,多鍍層檢測可達5層,精度及穩(wěn)定性可控制在+/-5%內(nèi)。2.儀器尺寸:618*525*490mm,樣品臺移動距離:160*150*90mm。3.激光定位和自動多點測量功能。4.可檢測固體、粉末狀態(tài)材料。5.運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環(huán)境相對要求低。6.可進行未知標樣掃描、無標樣定性,半定量分析。
更新時間:2023-04-24
品牌 | ISP/韓國 | 價格區(qū)間 | 20萬-50萬 |
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,能源,電子 |
產(chǎn)品概述
產(chǎn)品類型:能量色散X熒光光譜分析設(shè)備
產(chǎn)品名稱:鍍層厚度測試儀
型 號:iEDX-150T
生 產(chǎn) 商:韓國ISP公司
亞太地區(qū)戰(zhàn)略合作伙伴:廣州鴻熙電子科技有限公司
產(chǎn)品圖片:
X射線熒光光譜鍍層厚度測試儀iEDX-150T
工作條件 | |
●工作溫度:15-30℃ | ●電源:AC: 110/220VAC 50-60Hz |
●相對濕度:<70%,無結(jié)露 | ●功率:150W + 550W |
產(chǎn)品優(yōu)勢及特征
(一)產(chǎn)品優(yōu)勢
鍍層檢測,多鍍層檢測可達5層,精度及穩(wěn)定性可控制在+/-5%內(nèi)。
儀器尺寸:618*525*490mm,樣品臺移動距離:160*150*90mm。
激光定位和自動多點測量功能。
可檢測固體、粉末狀態(tài)材料。
運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環(huán)境相對要求低。
可進行未知標樣掃描、無標樣定性,半定量分析。
操作簡單、易學(xué)易懂、無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性,快速出檢測結(jié)果。
可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
軟件*升級。
無損檢測,一次性購買標樣可使用。
使用安心無憂,售后服務(wù)響應(yīng)時間24H以內(nèi),提供保姆式服務(wù)。
可以遠程操作,解決客戶使用中的后顧之憂。
可進行RoHS檢測(選配功能),測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬,測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。亦可對成分進行分析。
(二)產(chǎn)品特征
高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)
計算機 / MCA(多通道分析儀)
2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)。
Multi Ray. 運用基本參數(shù)(FP)軟件,通過簡單的三步進行無標樣標定,使用基礎(chǔ)參數(shù)計算方法,對樣品進行的鍍層厚度分析,可以增加RoHS檢測功能。
MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析
勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線性模式進行薄鍍層厚度測量
相對(比)模式 無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層厚度同時測量
單鍍層應(yīng)用 [如:Cu/ABS等]
雙鍍層應(yīng)用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三鍍層應(yīng)用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四鍍層應(yīng)用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金鍍層應(yīng) [如:Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]
Smart-Ray. 快速、簡單的定性分析的軟件模塊。可同時分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運算和配給。
Smart-Ray. 金屬行業(yè)X射線熒光光譜鍍層厚度測試儀定量分析軟件。可一次性分析25種元素。小二乘法計算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計算方法進行矩陣校正及內(nèi)部元素作用分析。金屬分析精度可達+ /-0.02%,貴金屬(8-24 Karat) 分析精度可達+ /-0.05kt
Smart-Ray。含全元素、內(nèi)部元素、矩陣校正模塊。
Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統(tǒng)
完整的統(tǒng)計函數(shù)均值、 標準差、 低/高讀數(shù),趨勢線,Cp 和 Cpk 因素等
自動移動平臺,用戶使用預(yù)先設(shè)定好的程序進行自動樣品測量。大測量點數(shù)量 = 每9999 每個階段文件。每個階段的文件有多 25 個不同應(yīng)用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含*統(tǒng)計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。
產(chǎn)品配置及技術(shù)指標說明
u 測量原理:能量色散X射線分析 | u 樣品類型:固體/粉末 |
u X射線光管:50KV,1mA | u過濾器:5過濾器自動轉(zhuǎn)換 |
u檢測系統(tǒng):SDD探測器(或Si-Pin) | u能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV) |
u檢測元素范圍:Al (13) ~ U(92) | u準直器孔徑:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選) |
u應(yīng)用程序語言:韓/英/中 | u分析方法:FP/校準曲線,吸收,熒光 |
u儀器尺寸:618*525*490mm | u樣品臺移動距離(自動臺):160*150*90mm |
u樣品臺尺寸:250*225mm |
X射線管:高穩(wěn)定性X光光管,使用壽命(工作時間>18,000小時)
微焦點X射線管、Mo (鉬) 靶
鈹窗口, 陽極焦斑尺寸75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。
50kV,1mA。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供性能。
探測器:SDD 探測器(可選Si-Pin)
能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
濾光片/可選
初級濾光片:Al濾光片,自動切換
7個準直器:客戶可選準直器尺寸或定制特殊尺寸準直器。
(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )
平臺:軟件程序控制步進式電機驅(qū)動X-Y軸移動大樣品平臺。
激光定位、簡易荷載大負載量為5公斤
軟件控制程序進行持續(xù)性自動測量
樣品定位:顯示屏上顯示樣品鎖定、簡易荷載、激光定位及拍照功能
分析譜線:
- 2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換)
- 基點改正(基線本底校正)
- 密度校正
- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數(shù)自動顯示
視頻系統(tǒng):高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)
- 觀察范圍:3mm x 3mm
- 放大倍數(shù):40X
- 照明方法:上照式
- 軟件控制取得高真圖像
計算機、打印機(贈送)
含計算機、顯示器、打印機、鍵盤、鼠標
含Win 7/Win 10系統(tǒng)。
Multi-Ray鍍層分析軟件
注:設(shè)備需要配備穩(wěn)壓器,需另計。
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