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產(chǎn)品分類
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X射線熒光光譜鍍層厚度測試儀

簡要描述:

X射線熒光光譜鍍層厚度測試儀,1.鍍層檢測,多鍍層檢測可達5層,精度及穩(wěn)定性可控制在+/-5%內(nèi)。
2.儀器尺寸:618*525*490mm,樣品臺移動距離:160*150*90mm。
3.激光定位和自動多點測量功能。
4.可檢測固體、粉末狀態(tài)材料。
5.運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環(huán)境相對要求低。
6.可進行未知標樣掃描、無標樣定性,半定量分析。

更新時間:2023-04-24

品牌ISP/韓國價格區(qū)間20萬-50萬
產(chǎn)地類別進口應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,化工,能源,電子

產(chǎn)品概述

產(chǎn)品類型:能量色散X熒光光譜分析設(shè)備

產(chǎn)品名稱:鍍層厚度測試儀

型    號:iEDX-150T

生 產(chǎn) 商:韓國ISP公司

亞太地區(qū)戰(zhàn)略合作伙伴:廣州鴻熙電子科技有限公司

產(chǎn)品圖片:

X射線熒光光譜鍍層厚度測試儀iEDX-150T

工作條件

●工作溫度:15-30℃

●電源:AC: 110/220VAC 50-60Hz

●相對濕度:<70%,無結(jié)露

●功率:150W + 550W

產(chǎn)品優(yōu)勢及特征

(一)產(chǎn)品優(yōu)勢

鍍層檢測,多鍍層檢測可達5層,精度及穩(wěn)定性可控制在+/-5%內(nèi)。

儀器尺寸:618*525*490mm,樣品臺移動距離:160*150*90mm。

激光定位和自動多點測量功能。

可檢測固體、粉末狀態(tài)材料。

運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環(huán)境相對要求低。

可進行未知標樣掃描、無標樣定性,半定量分析。

操作簡單、易學(xué)易懂、無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性,快速出檢測結(jié)果。

可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。

軟件*升級。

無損檢測,一次性購買標樣可使用。

使用安心無憂,售后服務(wù)響應(yīng)時間24H以內(nèi),提供保姆式服務(wù)。

可以遠程操作,解決客戶使用中的后顧之憂。

可進行RoHS檢測(選配功能),測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬,測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。亦可對成分進行分析。

(二)產(chǎn)品特征

高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)

計算機 / MCA(多通道分析儀)

2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)。

Multi Ray. 運用基本參數(shù)(FP)軟件,通過簡單的三步進行無標樣標定,使用基礎(chǔ)參數(shù)計算方法,對樣品進行的鍍層厚度分析,可以增加RoHS檢測功能。

MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析

勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

線性模式進行薄鍍層厚度測量

相對(比)模式  無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多鍍層厚度同時測量

單鍍層應(yīng)用 [如:Cu/ABS等]

雙鍍層應(yīng)用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三鍍層應(yīng)用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四鍍層應(yīng)用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金鍍層應(yīng) [如:Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

Smart-Ray. 快速、簡單的定性分析的軟件模塊。可同時分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運算和配給。

Smart-Ray. 金屬行業(yè)X射線熒光光譜鍍層厚度測試儀定量分析軟件。可一次性分析25種元素。小二乘法計算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計算方法進行矩陣校正及內(nèi)部元素作用分析。金屬分析精度可達+ /-0.02%,貴金屬(8-24 Karat) 分析精度可達+ /-0.05kt

Smart-Ray。含全元素、內(nèi)部元素、矩陣校正模塊。

Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統(tǒng)

完整的統(tǒng)計函數(shù)均值、 標準差、 低/高讀數(shù),趨勢線,Cp 和 Cpk 因素等

自動移動平臺,用戶使用預(yù)先設(shè)定好的程序進行自動樣品測量。大測量點數(shù)量 = 每9999 每個階段文件。每個階段的文件有多 25 個不同應(yīng)用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含*統(tǒng)計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。

產(chǎn)品配置及技術(shù)指標說明

u 測量原理:能量色散X射線分析

u 樣品類型:固體/粉末

u X射線光管:50KV,1mA

u過濾器:5過濾器自動轉(zhuǎn)換

u檢測系統(tǒng):SDD探測器(或Si-Pin)

u能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)

u檢測元素范圍:Al (13) ~ U(92)

u準直器孔徑:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選)

u應(yīng)用程序語言:韓/英/中

u分析方法:FP/校準曲線,吸收,熒光

u儀器尺寸:618*525*490mm

u樣品臺移動距離(自動臺):160*150*90mm

u樣品臺尺寸:250*225mm


X射線管:高穩(wěn)定性X光光管,使用壽命(工作時間>18,000小時)

微焦點X射線管、Mo (鉬) 靶

鈹窗口, 陽極焦斑尺寸75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。

50kV,1mA。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供性能。

探測器:SDD 探測器(可選Si-Pin)

能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)

濾光片/可選

初級濾光片:Al濾光片,自動切換

7個準直器:客戶可選準直器尺寸或定制特殊尺寸準直器。

(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

平臺:軟件程序控制步進式電機驅(qū)動X-Y軸移動大樣品平臺。

激光定位、簡易荷載大負載量為5公斤

軟件控制程序進行持續(xù)性自動測量

樣品定位:顯示屏上顯示樣品鎖定、簡易荷載、激光定位及拍照功能

分析譜線:

- 2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換)

- 基點改正(基線本底校正)

- 密度校正

- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數(shù)自動顯示

視頻系統(tǒng):高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)

- 觀察范圍:3mm x 3mm

- 放大倍數(shù):40X

- 照明方法:上照式

- 軟件控制取得高真圖像

計算機、打印機(贈送)

含計算機、顯示器、打印機、鍵盤、鼠標

含Win 7/Win 10系統(tǒng)。

Multi-Ray鍍層分析軟件

注:設(shè)備需要配備穩(wěn)壓器,需另計。




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